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    如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: x射线荧光膜厚仪
    产品型号: X-RAY XDL 210
    产品展商: 德国菲希尔
    关注指数:17822
    产品文档: 无相关文档
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    简单介绍
    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪FISCHERSCOPE?-X-RAY XDL?是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

    x射线荧光膜厚仪

       的详细介绍
    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210型X 射线荧光光谱仪,采用手动或自动方式,测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。英文FISCHERSCOPE X-RAY XDL。

    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210典型的应用领域有: 玩游戏赚钱的游戏平台

    ? 测量大规模生产的电镀部件

    ? 测量薄镀层,例如装饰铬

    ? 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

    ? 全自动测量,如测量印刷线路板

    ? 分析电镀溶液

    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。*多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。XDL X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。


    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210设计理念:

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。

    XDL210:平面样品平台,固定的Z 轴系统

    高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以**定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计,可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。所有的操作,测量数据的计算,以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。XDL 型光谱仪是安全而保护**的测量仪器,型式许可符合德国“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法规规定。


    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210通用规范:

    用途

    能量色散X 射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构,分析合金和微量组分。

    元素范围 *多同时测量从氯(Cl 17)到铀(U 92)之间的24 种元素设计理念 台式仪器,测量门向上开启

    测量方向 从上到下

    X 射线源

    X 射线源 带铍窗口的钨管

    高压 三种高压: 30 kV40 kV50 kV,可调整

    孔径(准直器) Ø 0.3 mm (可选:圆形Ø 0.1 mm Ø 0.2 mm;长方形0.3 mm x 0.05 mm)

    测量点

    取决于测量距离及使用 的准直器大小;实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。

    *小的测量点大小约Ø 0.16mm.

    测量距离,如测量腔体内部

    0 ~ 80 mm,未校准范围,使用砖利保护的DCM 功能

    0 ~ 20 mm,已校准范围, 使用砖利保护的DCM 功能

    X 射线探测

    X 射线接收器 比例接收器

    样品定位

    视频显微镜

    高分辨 CCD 彩色摄像头, 用于查看测量位置

    手动调焦或自动聚焦

    十字线刻度和测量点大小经过校准

    测量区域照明亮度可调

    激光点用于**定位样品

    放大倍数 20x ~ 180x (光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

    样品台 XDL 210

    设计 固定式样品平台

    *大移动范围 -

    X/Y 平台移动速度 -

    X/Y 平台移动重复精度 -

    Z 轴移动范围 -

    可用样品放置区域 463 x 500 mm

    样品*大重量 20 kg

    样品*大高度 155/90/25 mm

    激光定位点 -

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL

    镀层厚度 材料分析 显微硬度 材料测试


    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210电气参数:

    电压,频率 AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

    功率 *大 120 W (不包括计算机)

    保护等级 IP40


    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210仪器规格:

    外部尺寸 x x [mm]570 x 760 x 650

    重量 XDL21090 kgXDL22095 kg XDL230105 kgXDL240120 kg

    内部测量室尺寸 x x [mm]: 460 x 495 (参考“样品*大高度”部分的说明)

    环境要求

    操作温度 10°C 40°C / 50°F 104°F

    储藏或运输温度 0°C 50°C / 32°F 122°F

    空气湿度 ≤ 95 %,无结露


    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210计算系统:

    计算机 带扩展卡的计算机系统

    软件

    标准: WinFTM® V.6 LIGHT

    可选: WinFTM® V.6 BASICPDMSUPER


    x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔
    FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210执行标准:

    CE 合格标准 EN 61010

    X 射线标准 DIN ISO 3497 ASTM B 568

    型式许可

    安全而保护**的测量仪器,型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV

    法规规定。

    如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型号。

    涂装 相关仪器:涂层漆膜度测X线附着微型分光雾影反射率涂膜干时间记录仪标准光源

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